校正晶圓標準片 參考價：面議
校正晶圓標準片，用于Tencror Sufscan ,Hitach 和KLA-Tencor等設(shè)備的校準晶圓標準片和絕對校準標準片。
掃描 開爾文探針 參考價：面議
掃描 開爾文探針不僅可以測量樣品單個點的接觸電位差 （CPD），還可以掃描整個樣品表面。
量子效率測量站 參考價：面議
量子效率測量站是用于太陽能電池光譜響應(yīng)研究的完整實驗裝置。樣品由光柵產(chǎn)生的單色光束照射，入口處有兩種類型的光源：氙燈和鹵素燈。
熒光分光光度計 參考價：面議
熒光分光光度計：用于電化學樣品中的熒光研究， 研究光譜范圍廣、測量靈敏度高、光源強度穩(wěn)定 該儀器設(shè)計用于電化學樣品（固態(tài)和液態(tài)）中的熒光研究。能夠捕獲樣品的發(fā)射...
科學級—開爾文探針 參考價：面議
科學級—開爾文探針可以精確測量不同半導體和導電材料的功函數(shù)，具有較高的精度和準確性。
時間分辨阻抗譜分析儀 參考價：面議
時間分辨阻抗譜分析儀測量流經(jīng)樣品的電流和樣品上的電壓，以響應(yīng)作為頻率疊加產(chǎn)生的電壓信號。
強度調(diào)制光電流和光電壓光譜系統(tǒng) 參考價：面議
強度調(diào)制光電流和光電壓光譜系統(tǒng)，與使用 IUPAC（逆符號）約定的恒電位測量（世界上所有恒電位儀采用）相比，當前假設(shè)的符號約定是正常的。
電化學開爾文探針 參考價：面議
電化學開爾文探針，的關(guān)鍵元件是電化學比色皿套件，其中樣品直接放置在比色皿的頂部。
熒光分光光度計（第一光子計數(shù)） 參考價：面議
熒光分光光度計（第一光子計數(shù)）旨在探索暗淡樣品的熒光衰減。由于熒光現(xiàn)象的典型時間尺度跨越 10^-8 秒，因此需要更快的設(shè)置來觀察如此快速的過程。
瞬態(tài)吸收光譜 參考價：面議
瞬態(tài)吸收光譜，專用于測量光激發(fā)樣品中量子態(tài)之間的躍遷。TA 測量適用于液體和固體樣品類型。
微褪色測試儀 參考價：面議
微褪色測試儀，配備了標準的三腳架支架。它允許將儀器安裝在垂直位置，以檢查無法運輸?shù)拇笮臀矬w（墻壁、壁畫、雕塑等）。
擴展光電化學（PEC)測量站 參考價：面議
擴展光電化學（PEC)測量站配備了光柵和氙燈照明器，可提供廣泛的入射波長范圍：UV、VIS 和 NIR。帶有 Air Mass 1.5G 濾光片的氙氣照明器也可...
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